美國激光干涉儀

美國激光干涉儀

API激光干涉儀多軸加工中心的校準(zhǔn)
XD Laser激光干涉儀，一次安裝可測得六個(gè)參數(shù)（包括x、y、z、俯仰角、偏擺角、滾動角），可實(shí)現(xiàn)對多軸加工中心的精準(zhǔn)測量與評估。
API激光干涉儀快速測量
與傳統(tǒng)干涉儀相比，XD激光干涉儀可以更加快速、準(zhǔn)確地測量機(jī)床的定位和軸向數(shù)據(jù)，迅速完成整機(jī)的性能評估，停機(jī)時(shí)間可減少80%。
API激光干涉儀實(shí)時(shí)分析
API激光干涉儀軟件系統(tǒng)可對XD激光干涉儀采集的數(shù)據(jù)進(jìn)行實(shí)時(shí)分析處理并生成測量報(bào)告。
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激光干涉儀
在氦氖激光器上，加上一個(gè)約0.03特斯拉的軸向磁場。由于塞曼分裂效應(yīng)和頻率牽引效應(yīng), 激光器產(chǎn)生1和2兩個(gè)不同頻率的左旋和右旋圓偏振光。經(jīng)1/4波片后成為兩個(gè)互相垂直的線偏振光,再經(jīng)分光鏡分為兩路。一路經(jīng)偏振片1后成為含有頻率為f1-f2的參考光束。另一路經(jīng)偏振分光鏡后又分為兩路：一路成為僅含有f1的光束,另一路成為僅含有f2的光束。當(dāng)可動反射鏡移動時(shí),含有f2的光束經(jīng)可動反射鏡反射后成為含有f2 ±Δf的光束，Δf是可動反射鏡移動時(shí)因多普勒效應(yīng)產(chǎn)生的附加頻率,正負(fù)號表示移動方向(多普勒效應(yīng)是奧地利人C.J.多普勒提出的，即波的頻率在波源或接受器運(yùn)動時(shí)會產(chǎn)生變化)。這路光束和由固定反射鏡反射回來僅含有f1的光的光束經(jīng)偏振片2后會合成為f1-(f2±Δf）的測量光束。測量光束和上述參考光束經(jīng)各自的光電轉(zhuǎn)換元件、放大器、整形器后進(jìn)入減法器相減,輸出成為僅含有±Δf的電脈沖信號。經(jīng)可逆計(jì)數(shù)器計(jì)數(shù)后，由電子計(jì)算機(jī)進(jìn)行當(dāng)量換算（乘 1/2激光波長）后即可得出可動反射鏡的位移量。雙頻激光干涉儀是應(yīng)用頻率變化來測量位移的，這種位移信息載于f1和f2的頻差上，對由光強(qiáng)變化引起的直流電平變化不敏感，所以抗干擾能力強(qiáng)。它常用于檢定測長機(jī)、三坐標(biāo)測量機(jī)、光刻機(jī)和加工中心等的坐標(biāo)精度，也可用作測長機(jī)、高精度三坐標(biāo)測量機(jī)等的測量系統(tǒng)。利用相應(yīng)附件，還可進(jìn)行高精度直線度測量、平面度測量和小角度測量。